Anwendung
Die beiden Weißlichtinterferometer der Fa. Polytec dienen der Oberflächenanalyse an verschiedensten Bauteilgeometrien. In Kombination bieten Sie die Möglichkeit, Oberflächenstrukturen vom lang- bis in den kurzwelligen Strukturbereich hochgenau zu erfassen und zu analysieren.

TopMap Micro.View (links):

Das mikroskopische Weißlichtinterferometer ist für optische 2D- und 3D-Messungen von Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen geeignet und besitzt eine vertikale Auflösung im Nanometerbereich. Für detaillierte und hochauflösende Messungen können Objektive mit den Vergrößerungen 2,5x; 5x; 10x; 20x und 50x genutzt werden.

TopMap Pro.Surf (rechts):

Als makroskopisches Weißlichtinterferometer kann es für viele Belange der Oberflächencharakterisierung anhand von Parametern wie beispielsweise Ebenheits-, Stufenhöhen und Parallelitätsmessungen genutzt werden. Das Gerät bietet eine hohe vertikale sowie laterale Auflösung, eine telezentrische Optik sowie eine hohe Messgeschwindigkeit bei einem Bildfeld von etwa 23 x 17 mm² und einem vertikalen Messbereich von 70 mm.

Die Datenblätter für die jeweiligen Geräte finden Sie hier:
TopMap Micro.View
TopMap Pro.Surf

Das vom Freistaat Thüringen geförderte Vorhaben wurde durch Mittel der Europäischen Union im Rahmen des Europäischen Fonds für regionale Entwicklung (EFRE) und von REACT-EU kofinanziert.